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2025/06/17new

【IBM】AIにより半導体生産を革新する~IBMリサーチの研究者は、AIを使って半導体ウェハーの欠陥の由来を突き止め、半導体生産のボトルネックを分析する手法を研究

| by:ウェブ管理者
現代の半導体技術は、シリコンウェハーの上に作られた繊細な工芸品のようなものです。製造に際して、多くのステップが必要で、各ステップで何らかの欠陥が入り込む可能性があります。生産の効率と品質の向上に寄与するため、IBM リサーチの研究者は、半導体生産の全ステップを通して欠陥の原因を素早く見つけるためのアルゴリズムを提案し、ウェハーの流れを分析するための手法を新しい観点から再検討しています。

IBMセミコンダクターズのデータサイエンス・グループの責任者である井手剛率いるチームは、米国ニューヨークで5月5-8日に開催された国際会議Advanced Semiconductor Manufacturing Conference (ASMC) において3件の発表を行いました。井手博士とチームが開発したアルゴリズムは、IBMのSiView とIntelligent Fab という半導体生産における最先端のデータ・プラットフォームを活用しています。



原文はこちら
https://jp.newsroom.ibm.com/2025-06-16-blog-how-ai-is-improving-chip-design-and-production

15:00 | IT:一般
 

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